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    液氦低温探针台 PSM-LHe系列

    液氦低温探针台 PSM-LHe系列

    PSM-LHe系列液氦低温探针台能够为半导体芯片的电学参数测试给予一个4K-475K高低温真空测试环境,顺利获得外接不同的电学测量仪器,可完成集成电路的电压、电流、电阻以及IV曲线等参数检测,用于低温真空环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电学测试。

    液氦低温探针台 PSM-LHe系列产品概述

    液氦低温探针台在科研研究和技术开发中发挥着至关重要的作用。它能够在低温环境下对样品进行各种非破坏性的物理性能和电学性能测试,帮助研究人员深入分析材料或者器件的各种物理性能和电学性能,从而为新材料的研发和应用给予重要的数据支持。


    PSM-LHe系列液氦低温探针台能够为半导体芯片的电学参数测试给予一个4K-475K高低温真空测试环境,顺利获得外接不同的电学测量仪器,可完成集成电路的电压、电流、电阻以及IV曲线等参数检测,用于低温真空环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电学测试。


    特点

    • 液氦低温真空探针台,腔体真空度可达到10E-4torr。

    • 探针臂的位移调节在真空腔外操作,可以在不破坏真空的情况下,切换样品上的不同器件进行测试。

    • 独特的探针臂 X-Y-Z-R四维调节,能满足最大4英寸样品的测试。最多可同时安装6个探针臂,探针臂可选直流臂、光纤臂、微波臂等。

    • 真空腔材质为铝制材料,能够有效减小外界的电磁干扰提高测试的精准度和稳定性。

    • 探针臂采用三同轴接头,漏电性能好,实测漏电流小于30fA@1V@4K--475K。

    • 测试温度范围宽,最大支持4K-475K陆续在变温。

    液氦低温探针台 PSM-LHe系列技术参数

    参数和指标:

    探针台主机分类
    型号
    PSM-LHe-2
     PSM-LHe-4
    温度范围
    4K--325K
    4K--325K
    控温稳定性
    +/-50mK
    样品座
    类型及材料
    无氧铜接地镀金样品座
    尺寸2寸4寸
    可选规格
    绝缘样品座 (温度只能到400K)
    同轴样品座 (温度只能到400K)
     三同轴样品座(温度只能到400K)
    探针臂
    类型
    直流探针臂(标准)
    可订制规格
    微波探针臂、光纤探针臂、热电偶探针臂
    数量4
    接头及电缆
    三同轴接头+极细同轴低温电缆
    漏电流
    30fA@1V 真空环境中
    信号频率
    DC--50MHz
    匹配阻抗
    50欧姆
    位移范围X+/- 12.5mm,Y+/- 50mm 
    Z +/-7.5mm, R+/-10°
    X+/- 12.5mm,Y+/- 50mm 
    Z +/-7.5mm, R+/-10°
    光学系统
    显微镜放大倍数
    500倍
    分辨率
    小于2微米
    视场
    最大22mm
    工作距离
    90--100mm
    真空腔
    材料
    铝合金
    真空腔尺寸
    8英寸
    视窗尺寸
    2英寸
    4英寸
    真空腔体窗口
    红外吸收窗口
    内层
    标准石英窗口
    真空度
     5E-4 torr
    预留接口 
    2个探针臂接口&2个电学接口
    防辐射屏材料
    不锈钢
    专用振动隔离桌
     尺寸
    800*800*800
    900*900*800
    桌推
     固定脚&滚轮
    减振重力减振&气浮减振垫