4K闭循环低温探针台 PSM-4K系列
PSM-4K系列低温探针台是一款闭循环低温探针台，紧凑型及低振动的设计，能够为半导体芯片的电学参数测试给予一个＜5K-350K高低温真空测试环境，顺利获得外接不同的电学测量仪器，可完成材料/器件的IV、CV、光学以及微波等参数检测，实现低温真空环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电学测试。
产品中心
PRODUCT CENTER
4K闭循环低温探针台 PSM-4K系列产品概述
4K闭循环低温探针台在科研研究和技术开发中发挥着至关重要的作用。它能够在低温环境下对样品进行各种非破坏性的物理性能和电学性能测试，帮助研究人员深入分析材料或者器件的各种物理性能和电学性能，从而为新材料的研发和应用给予重要的数据支持。
PSM-4K系列低温探针台是的一款性能优越的闭循环低温探针台，其紧凑型以及低振动的设计，能够为半导体芯片的电学参数测试给予一个＜5K-350K高低温真空测试环境。采用闭循环制冷，无需消耗液氦，温度4.5K。
特点
• 采用闭循环制冷，无需消耗液氦，温度4.5K。
• 探针臂的位移调节在真空腔外操作，可以在不破坏真空 的情况下，切换样品上的不同器件进行测试。
• 独特的探针臂 X-Y-Z-R四维调节，能满足4英寸样品的测试。
• 真空腔材质为铝制材料，能够有效减小外界的电磁干扰，提高测试的精准度和稳定性。
• 探针臂采用三同轴接头，漏电性能好，实测漏电流小于100fA @1V@4.5K-350K。
• 测试温度范围宽，支持4.5K-350K陆续在变温。
• 独特设计的柔性探针，将探针安装到铜制弹片上，避免扎针过程中力量过大导致样品或电极损坏。
测试数据
漏电流测试数据：
温度曲线：
4K闭循环低温探针台 PSM-4K系列技术参数
参数和指标：
| 探针台主机分类 | ||
| 型号 | PSM-4K-2 | PSM-4K-4 |
| 温度范围 | 4.5K--350K | 4.5K--350K |
| 控温稳定性 | +/-50mK | |
| 振动 | ＜1μm | |
| 样品座 | ||
| 类型及材料 | 无氧铜接地镀金样品座 | |
| 尺寸 | 2寸 | 4寸 |
| 可选规格 | 绝缘样品座 （温度只能到350K） 同轴样品座 （温度只能到350K） 三同轴样品座（温度只能到350K） | |
| 探针臂 | ||
| 类型 | 直流探针臂（标准） | |
| 可订制规格 | 微波探针臂、光纤探针臂、热电偶探针臂 | |
| 数量 | 4（标准），最多可配6 | |
| 接头及电缆 | 三同轴接头+极细同轴低温电缆 | |
| 漏电流 | 100fA@1V 真空环境中 | |
| 信号频率 | DC--50MHz | |
| 匹配阻抗 | 50欧姆 | |
| 位移范围 | X+/- 35mm,Y+/- 12.5mm Z +/-6.5mm R+/-7.5° | X+/- 50mm,Y+/- 12.5mm Z +/-6.5mm R+/-7.5° |
| 光学系统 | ||
| 显微镜放大倍数 | 10--180倍 | |
| 分辨率 | 3微米 | |
| 视场 | 最大22mm | |
| 工作距离 | 90--100mm | |
| 真空腔 | ||
| 材料 | 铝合金 | |
| 腔体容积 | 29L | 35L |
| 整体尺寸 | 900*900*600 | 1000*1000*600 |
| 腔体内径 | 280mm | 300mm |
| 视窗尺寸 | 50mm | 100mm |
| 真空腔体窗口 | 标准石英窗口 | |
| 防辐射屏窗口 | 红外吸收窗口 | |
| 真空度 | 5E-4 torr | |
| 预留接口 | 2个探针臂接口&2个电学接口 | |
| 防辐射屏材料 | 不锈钢 | |
| 冷却时间 | 150分钟到5K | 200分钟到5K |
| 冷源 | GM制冷机 | |
| 专用振动隔离桌 | ||
| 尺寸 | 800*800*800 | 900*900*800 |
| 桌推 | 固定脚&滚轮 | |
